尊敬的作者：

您好！

感谢您对第四届检测技术与自动化工程国际学术会议(TTAE 2024) 的关注与支持。经过主办方慎重考虑，原定于2024年9月6-8日举办的第四届检测技术与自动化工程国际学术会议将延期至2024年9月27日-29日召开。该调整不影响文章见刊检索，请放心投稿！

由于会议延期给您带来的不便，我们深表歉意。我们将竭尽全力确保会议的顺利进行，并为大家提供一个更高质量的学术交流平台，期待在9月27日-29日与您相见！

会议延期不影响论文正常审核录用以及发表！

【投稿通道：https://www.ais.cn/attendees/paperSubmit/Z63QUA】

【参会报名通道：https://www.ais.cn/attendees/toSignUp/Z63QUA】

若您有任何疑问或需要进一步的信息，请随时与我们联系。

再次感谢您的理解和支持！

此致

TTAE 2024组委会

2024年8月28日

尊敬的作者：

第四届检测技术与自动化工程国际学术会议已成功申请到SPIE独立出版，ISSN号已确定。

本会议所有的投稿最终经过2-3位组委会专家的严格审稿之后，所录用的论文将递交SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X))出版，出版后提交EI Compendex和Scopus检索。目前该出版社EI检索稳定快速。

欢迎参会投稿：https://www.ais.cn/attendees/index/Z63QUA

TTAE 2024组委会

2024年6月5日