第三届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2023）将于2023年12月22-24日在中国哈尔滨举行。目前该会议已通过JPCS出版审核，所有的投稿都必须经过2-3位组委会专家严格审稿，最终所有录用的论文将由EI期刊Journal of Physics: Conference Series (JPCS) (ISSN:1742-6596)出版，见刊后由出版社提交至 EI Compendex, SCOPUS 检索。

DTIS 2022已由JPCS出版并实现见刊，目前该出版社EI检索稳定~

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参会：https://www.ais.cn/attendees/toSignUp/RYQA6V