【SPIE出版,连续3届EI稳定,国际双会场】第四届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2025)

第四届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2025)

【武汉-伦敦国际双会场,往届三个月检索,连续3届EI检索】


【武汉/伦敦 国际双会场】

武汉会场:2025年5月23-25日 武汉东湖学院

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伦敦会场:2025年5月29-30日 伦敦布鲁内尔大学(QS世界排名343)

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会议官网:https://www.ais.cn/attendees/index/FMJFBV

一轮截稿时间:2025年3月14日(早鸟优惠)

提交检索:EI Compendex、Scopus

*连续三届EI稳定检索,往届均已成功见刊检索,往届最快会后3个月EI检索*


329211126175430709.png【主办单位】

武汉东湖学院.jpg   brunel-logo.png             


329211126175430709.png【支持单位】

陕西科技大学.png

合作单位2.jpg


329211126175430709.png【大会组委】

大会主席

唐远炎 教授,澳门大学(IEEE Life Fellow, IAPR Fellow, AAIA Fellow)

许承光 教授,武汉东湖学院(副校长)

盛步云 教授,武汉理工大学(中国机械工程学会设计分会理事,湖北省机电工程学会副会长)

技术程序委员会主席

Prof. Huiyu Zhou, University of Leicester, UK

Prof. Mehran EMADI ANDANI, University of Verona,  Italy(IEEE Senior Member)

冯波 副教授,武汉东湖学院

出版主席

Prof. Ata Jahangir Moshayedi, Jiangxi University of Science and Technology, China(IEEE Senior Member)

陈斌 研究员,哈尔滨工业大学(深圳)

张杰,武汉东湖学院

地方委员会主席

雷涛 教授,陕西科技大学(电子信息与人工智能学院副院长,CCF/CSIG/IEEE高级会员)

Dr. Shaoqing Hu, Brunel Unviersity of London, UK(IEEE Member)

左小琼 教授,武汉东湖学院(院长)


329211126175430709.png【论文出版与检索】

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所有的投稿经过严格的审稿之后,最终所录用的论文将由SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版,出版后将提交至EI Compendex和Scopus检索 。(目前EI检索稳定,往届均已检索,最快会后3个月检索!)

*往届检索记录请查看官网:https://www.ais.cn/attendees/index/FMJFBV

329211126175430709.png【征文主题】(包括但不限于)

机器视觉自动识别与检测技术
计算机视觉

主动视觉

三维视觉

机器学习

人工智能

大数据和数据挖掘

深度学习

图像处理

图像处理方法

计算成像

机器视觉

机器视觉系统和组件

光通信

自动识别中的人工智能技术

生物识别(包括人脸识别)
文件处理与识别
进阶学习方法
线性模型和降维
自然语言处理与识别

人脸和手势识别

图像取证和识别

微机测控装置与系统

传感技术与应用

自动检测与转换技术

检测技术与自动化装置的研究与应用

自动检测系统的控制、运行与维护

光学精密工程

光学仪器

329211126175430709.png更多征稿主题敬请咨询大会秘书(李老师:19880960280)


329211126175430709.png【投稿/参会链接】

论文投稿链接:https://www.ais.cn/attendees/paperSubmit/FMJFBV

论文模板:https://www.ais.cn/attendees/material/FMJFBV

参会报名链接:https://www.ais.cn/attendees/toSignUp/FMJFBV


329211126175430709.png【联系我们】

会议官网: http://www.mvaid.net

会议邮箱: icmvaid@163.com

会务组李老师【邀请码:L804】:

QQ:3280954869

电话:+86-19880960280(微信同号)

微信二维码.png 企微二维码.png

2025/01/23 16:04
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