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期刊信息
期刊名称 IEEE Open Journal of Instrumentation and Measurement ISSN号 2768-7236 出版商 IEEE Xplore 出版模式 OA出版 收录数据库 Emerging Sources Citation Index 学科范畴 一级学科:工程技术 二级学科:仪表仪器测量学 期刊亮点 1. 审稿效率高:平均审稿周期约2.5个月。
2. 方向广泛:测量、检测、跟踪、监控、表征、识别、传感、估计、识别或诊断物理现象的方法、仪器、系统和应用程序;或计量学和测量理论,包括测量不确定度、仪器精度、校准等。 3. 开放获取:OA模式提升文章可见度,全球读者免费阅读。(版面费1990USD)
投稿建议 🔹 适合人群:工程师、仪器仪表和测量领域科研人员。 🔹 研究方向: 仪器仪表和测量学 总结 IEEE Open Journal of Instrumentation and Measurement 凭借审稿快、门槛低、无预警风险已成为仪表仪器测量领域的新晋ESCI检索期刊。该期刊特别适合急需发表成果的研究生或有职称晋升需求的研究者。如果研究方向契合且数据充分,可以优先可考虑投稿! (注:本文部分数据综合自JCR报告分享)