个人简介

王晓晓 研究内容包括集成电路可靠性、安全性设计与测试。科研成果有助于打破芯片可靠性测试的时间和空间限制以及降低测试成本，探测集成电路安全性威胁，保障集成电路长期安全运行。先后2次获的国际会议最佳论文奖以及2014 URSI 青年科学家荣誉。研究成果获得了学术界和工业界的肯定，引用500余次。已申请专利6项（包括国际专利），其中三项已应用在40纳米和28纳米多核工业量产主控芯片上。