教授
汉晶
  • 所属院校:
    北京工业大学
  • 所属院系:
    材料学院
  • 研究领域:
    先进电子封装材料与技术;互连焊点可靠性;焊点界面反应
  • 职称:
    教授
  • 导师类型:
    硕导
  • 招生专业:
    材料科学与工程
个人简介

个人简述:

于2013年8月起,受聘于北京工业大学材料学院。先后主持国家自然科学基金青年基金、北京市自然科学基金面上项目和北京市教委科技计划等纵向项目。


科研工作:

Most Recent Publications:(1) J. Han*, F. Guo, J.P. Liu, Early Stages of Localized Recrystallization in Pb–Free BGA Solder Joints Subjected to Thermomechanical Stress, J. Alloys Compd. 704 (2017) 574–584.(2) J. Han*, F. Guo, J.P. Liu, Recrystallization Induced by Subgrain Rotation in Pb–free BGA Solder Joints Under Thermomechanical Stress, J. Alloys Compd. 698 (2017) 706–713.(3) J. Han*, F. Guo, J.P. Liu, Effects of Anisotropy of Tin on Grain Orientation Evolution in Pb–free Solder Joints Under Thermomechanical Stress, J. Mater. Sci. Mater. Electron. (2017). doi:10.1007/s10854-017-6347-2.(4) J. Han*, S.H. Tan, F. Guo, Study on Subgrain Rotation Behavior at Different Interfaces of a Solder Joint during Thermal Shock, J. Electron. Mater. 45 (2016) 6086–6094.(5) S.H. Tan, J. Han*, F. Guo, Subgrain Rotation at Twin Grain Boundaries of a Lead–Free Solder Joint during Thermal Shock, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 27 (2016) 9642–9649.(6) Y. Wang, J. Han, L. M. Ma, Y. Zuo, F. Guo*, Electromigration Behaviors of Cu Reinforced Sn–3.5Ag Composite Solder Joints, J. Electron. Mater. 45 (2016) 6095–6101.(7) P.H. Gu, J. Han, F. Guo*, Effects of Nano-Structured Reinforcements on the Recrystallization and Damage Mode of Sn–3.0Ag–0.5Cu Solder Joints, 17th International Conference on Electronic Packaging Technology, Aug. 2016.


教育背景:

2002/09-2006/07,就读于哈尔滨工业大学,焊接技术与工程系,获工学学士;2006/09-2008/07,就读于哈尔滨工业大学,深圳研究生院,获工学硕士;2008/09-2013/01,就读于哈尔滨工业大学,深圳研究生院,获工学博士。

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