Electronic Device Failure Analysis
期刊ISSN：
1537-0755
E-ISSN：
-
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出版信息
出版商
ASM International
涉及的研究方向
Engineering-Safety, Risk, Reliability and Quality
是否OA
否
SCI期刊收录Coverage
Cite Score相关
| Cite Score | SJR | SNIP | 排名 |
|---|---|---|---|
| 0.5 | 0.137 | 0.125 |
学科
大类学科：Engineering
小类学科：Safety, Risk, Reliability and Quality
分区
Q4
学科
大类学科：Engineering
小类学科：Electrical and Electronic Engineering
分区
Q4
|
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